Keithley Seria 2600B, 2601B, 2602B, 2611B, 2612B, 2614B, 2634B, 2635B, 2636B -(SMU) źródła mierzące Keithley

Series 2600B SourceMeter® SMU Instruments:

• Four quadrant source/measure with 6½-digit resolution;
• Built-in "Plug & Play" Java-Based I-V characterization and test software;
• TSP® (Test Script Processing) technology embeds complete test programs inside the instruments;
• TSP-Link® expansion technology for multi-channel parallel test;
• Software emulation for Keithley's Model 2400 SourceMeter SMU Instrument.

Charakterystyka źródeł mierzących serii 2600B firmy Keithley:

• seria 2600B to rodzina urządzeń typu SMU (rozwinięcie źródeł mierzących serii 2600A), łączących cechy multimetru, generatora impulsowego oraz specjalizowanego żródła prądowego oraz napięciowego, urządzenie takie może dostarczać prąd i mierzyć napięcie lub dostarczać napięcie i mierzyć prąd;
• urządzenia mogą pracować w zakresach wielkości pomiarowych:
  - napięcia od 100 mV do 200 V,
  - prądu od 100 pA do 10 A (w trybie impulsowym),
  - rezystancji od 0,5 μΩ do 10P Ω;
• urządzenia SMU serii 2600B pracują w trybie czterokwadrantowym mogą być programowalnym zasilaczem dostarczającym energię od obwodu bądź też mogą być programowalnym obciążeniem dla mierzonego obwodu;
• wybrane modele SMU 2600B posiada funkcję "contact check" sprawdzającą jakość połączeń urządzenia do mierzonego obwodu, zapewniającą poprawność pomiarów;
• wśród modeli SMU seria 2600B wyróżnia się wbudowanym procesorem TSP (Test Script Processor) umożliwiającym sterowanie pracą urządzenia według zaprogramowanych sekwencji dla specjalnych pomiarów lub sporządzaniu charakterystyk;
• system TSP Link umożliwia kaskadowe łączenie urządzeń SMU serii 2600 i sterowanie pracą grupy urządzeń tak jakby to była pojedyncza jednostka pomiarowa;
• dostępne interfejsy w urządzeniu: GPIB, RS-232, cyfrowe łącze WE/WY oraz łącze wyzwalacza pomiarów (Trigger).

Zastosowanie:

• pomiary charakterystyk i właściwości rezystorów, głowic twardych dysków, diod, czujników, kondensatorów i tranzystorów,
• sporządzanie charakterystyk I-V elementów półprzewodnikowych,
• testowanie elementów pasywnych i aktywnych,
• testy i pomiary charakterystyk tranzystorów BJT, FET, urządzeń o średniej i dużej skali scalenia (SSI oraz LSI),
• testowanie i pomiary scalonych układów wysokiej częstotliwości (RFIC).