Keithley 4200-SCS z opcją pomiarów 4210-CVU

Moduł do przeprowadzania charakterystyk C-V. Jest to opcja dla systemu 4200-SCS firmy Keithley.

Opcja 4200 - CVU, jest wprowadzonym przez firmę Keithley uzupełnieniem do systemu 4200-SCS (Semiconductor Characterization System), poszerzającą możliwości systemu o dokonywanie pomiarów pojemności (C) oraz przewodności (G) w elementach półprzewodnikowych.

Wraz z opcjami pomaiarowymi wzbogacone zostało oprogramowanie uzupełniajace system w biblioteki uzywane przy pomiarach CV.

Dodatkowo opcja 4210-CVU charakteryzuje się:

• możliwością generacji sygnałów testujacych w granicach 1 kHz do 10 MHz,
• konfigurowalnym liniowym lub zwykłym przemiataniem z użyciem 4096 punktów,
• wyposażeniem w opcjonalne akcesoria, umożliwiajace podłączenie popularnych proberów analitycznych.