Wydarzenia

Katalog CD Keithley 2010. Dostępne jest już najnowsze wydanie katalogu wyrobów firmy Keithley na 2010 rok. Osoby chętne do zapoznania się z aktualną ofertą produktów firmy Keithley prosimy o kontakt z biurem firmy Helmar.

Na stronie internetowej firmy Keithley pojawił się przewodnik po aplikacjach i rozwiązaniach systemów pomiarowych. Na szesnastu stronach pokazane są różne typy aplikacji pomiarowych wraz z przykładową konfiguracją sprzętową, zapewniającą rozwiązanie problemu pomiarowego. więcej...

Pojawiła się nowa pozycja w gamie podręczników wydawanych przez firmę Keithley Instruments, Inc.. Jest to podręcznik pt. "Semiconductor Device Test Applications Guide (1st edition: 2008)". Zawarte są w nim informacje na temat aplikacji testujących komponenty półprzewodnikowe z użyciem źródeł mierzących serii 2600. Wszystkich chcących zapoznać się z tą lekturą zapraszamy do odwiedzenia strony i zamówienia tej publikacji: www.keithley.com. Zapraszamy!

ARCHIWUM WIADOMOŚCI

W dniu 14 kwietnia 2010 roku w Warszawie byliśmy obecni w ramach pokazu ENGEL Roadshow 2010. Dziękujemy wszystkim za przybycie i uczestnictwo.

W dniach 23-26 marca 2010 roku byliśmy obecni na targach "AUTOMATICON 2010 - Automatyka Pomiary Elektronika", które odbyły się w Warszawie. Wszystkim odwiedzającym nasze stanowisko serdecznie dziękujemy..

W czerwcu 2009 roku w siedzibie firmy Kistler odbył się kurs na temat pomiarów w obróbce skrawaniem. Kurs przeznaczony był dla inżynierów i techników, którzy pracują w dziedzinie obróbki skrawaniem Szkolenie na podstawie wybranych aplikacji i zagadnień, wyjaśniło uczestnikom istotę pomiarów stosowanych podczas obróbki skrawaniem i zamierzają używać piezoelektrycznych czujników wieloskładowych siły firmy Kistler (dynamometrów).

Kurs obejmował m.in. następujące zagadnienia:
- wstęp do technologii piezoelektrycznej wykorzystywanej w dynamometrach,
- informacje techniczne na temat stosowanych dynamometrów: stacjonarnych i obrotowych,
- dokonywanie pomiarów i akwizycja danych pomiarowych,
- omówienie sił i parametrów obrabialności w procesie obróbki skrawaniem,
- interpretacja wyników pomiarów.

W dniach 23, 25, 26 czerwca 2009 roku w Warszawie, Łodzi oraz Wrocławiu odbyły się spotkania i pokazy sprzętu pomiarowego zorganizowane wspólnie z firmą Keithley Instruments Inc. - producenta aparatury pomiarowej oraz Suss MicroTec Test Systems GmbH - producenta stacji probierczych i manipulatorów, którą reprezentujemy od 5 maja 2009. Producenci zaprezentowali współdziałanie system 4200-SCS do pomiaru charakterystyk I-V oraz C-V wraz z ręcznym proberem.
Oprócz wspomnianego pokazu delegaci obu firm przedstawili seminaria: S. Koenig - "Measurement challanges on new semiconductor material and devices - Advanced IV/CV/pulsed IV measurement techniques using Keithley 4200 characterization solution" - Keithley Instruments GmbH; A. Schmidt, "New ProbeShield Technology - the next generation of probe-stations for devicecharacterization and modeling" - SUSS MicroTec Test Systems GmbH.

Warsztaty na temat pomiarów siły

W dniach 18 i 20 listopada 2008 roku w Krakowie i Katowicach wraz z firmą Kistler przeprowadziliśmy warsztaty na temat pomiarów siły.

Podczas siedmiogodzinnego szkolenia, można było zapoznać się z praktycznymi uwagami dotyczącymi:

          - projektowania pomiarów siły
          - właściwego montażu i uruchamiania czujników siły
          - kalibracji systemów do pomiaru siły oraz prawidłowej ich eksploatacji.

Wszystkim uczestnikom szkolenia dziękujemy za uczestnictwo.

W dniu 3 kwietnia 2008 roku na terenie Akademii Górniczo - Hutniczej w Krakowie odbyło się uruchomienie i prezentacja systemu do charakteryzacji struktur półprzewodnikowych 4200-SCS firmy Keithley. Prezentowany system dodatkowo wyposażony był w opcję pomiarów charakterystyk pojemnościowo - napięciowych (C-V).