• szukaj
• linki
• wydarzenia
• kontakt
• o firmie

• produkty
• nowości w ofercie
• promocja
• zapytanie ofertowe
• pomoc techniczna
• FAQ
• powrót

Keithley Seria 2600, 2601, 2602, 2611, 2612, 2635, 2636 -(SMU) źródła mierzące Keithley

• seria 2600 to rodzina urządzeń typu SMU (rozwinięcie źródeł mierzących serii 2600), łączących cechy multimetru, generatora impulsowego oraz specjalizowanego żródła prądowego oraz napięciowego, urządzenie takie może dostarczać prąd i mierzyć napięcie lub dostarczać napięcie i mierzyć prąd
• urządzenia mogą pracować w zakresach wielkości pomiarowych
  - napięcia od 1μV do 200V
  - prądu od 1pA do 10A
  - rezystancji od 10μΩ do 200MΩ
• urządzenia SMU serii 2600 pracują w trybie czterokwadrantowym, mogą być programowalnym zasilaczem dostarczającym energię od obwodu , bądź też mogą być programowalnym obciążeniem dla mierzonego obwodu,
• podstawowa dokładność miernika wynosi 0.015% przy rozdzielczości 5 1/2 cyfry
• SMU 2600 posiada funkcję "contact check" sprawdzającą jakość połączeń urządzenia do mierzonego obwodu, zapewniającą poprawność pomiarów
• wśród modeli SMu seria 2600 wyróżnia się wbudowanym procesorem TSP (Test Script Processor) umożliwiającym sterowanie pracą urządzenia według zaprogramowanych sekwencji dla specjalnych pomiarów lub sporządzaniu charakterystyk
• system TSP Link umożliwia kaskadowe łączenie urządzeń SMU serii 2600 i sterowanie pracą grupy urządzeń tak jakby to była pojedyncza jednostka pomiarowa
• NOWOŚĆ!!!  2635/2636 - specjalne wersje niskoprądowe (low current), zakres prądowy od 1nA (rozdzielczość 10fA),
• dostępne interfejsy w urządzeniu: GPIB, RS-232 , cyfrowe łącze WE/WY oraz łącze wyzwalacza pomiarów (Trigger)

• pomiary charakterystyk i właściwości rezystorów, głowic twardych dysków, diod, czujników, kondensatorów i tranzystorów
• sporządzanie charakterystyk I-V elementów półprzewodnikowych
• testowanie elementów pasywnych i aktywnych
• testy i pomiary charakterystyk tranzystorów BJT, FET, urządzeń o średniej i dużej skali scalenia (SSI oraz LSI)
• testowanie i pomiary scalonych układów wysokiej częstotliwości (RFIC)