|
|
Keithley S 530 - system charakteryzacji parametrycznej półprzewodników firmy Keithley
System do przeprowadzania testów parametrycznych półprzewodników DC oraz C-V.
- zakres pomiaru prądów rzędu pA
- mała upływność układu pomiarowego
- 20W źródła mierzące SMU potrafią zapewnić zasilanie prądem o natężeniu do 1A lub napięciem do 200V
- istnieje możliwość konfiguracji do 8 źródeł mierzących SMU
- opcjonalnie istnieje możliwośc rozszerzenia ekranowania współpracującego z systemem probera
- system jest kompatybilny z wieloma dostępnymi na rynku proberami
- umożliwia pracę źródła napięcia do 1000V przy prądzie do 10mA
Zastosowanie:
- pomiary DC oraz C-V
- testy powtarzalności oraz pomiary charakterystyk materiałów półprzewodnikowych
Inne produkty w tej kategorii:
4200-SCS - system pomiarowy do przeprowadzania testów I-V oraz C-V ; 4200-SCS z opcją pomiarów 4210-CVU 1kHz - 10M; Moduł 4225-PMU (Pulse Measure Unit) dla 4200-SCS
|
