4200-SCS z opcją pomiarów 4210-CVU

 

Plik PDF... 

• Opcja 4200 - CVU, jest wprowadzonym przez firmę Keithley uzupełnieniem do systemu 4200 - SCS (Semiconductor Characterization System), poszerzającą możliwości systemu o dokonywanie pomiarów pojemności (C) oraz przewodności (G) w elementach półprzewodnikowych. Wraz z opcjami pomaiarowymi wzbogacone zostało oprogramowanie uzupełniajace system w biblioteki uzywane przy pomiarach CV. Dodatkowo opcja 4210-CVU charakteryzuje się: możliwością generacji sygnałów testujacych w granicach 1 kHz do 10 MHz, konfigurowalnym liniowym lub zwykłym przemiataniem z użyciem 4096 punktów, opcjonalne akcesoria, umożliwiajace podłączenie popularnych proberów analitycznych.