4200-SCS - system pomiarowy do przeprowadzania testów I-V oraz C-V

 

• system serii 4200 przeznaczony jest do prowadzenia badań i pomiarów elementów i struktur półprzewodnikowych
• elementy systemu: - obudowa z panelem wyświetlacza oraz kieszeniami kart rozszerzeń w tylnej części, - napęd CD oraz FDD na panelu przednim - system operacyjny Windows - karty sterująco-pomiarowe
• typy kart przeznaczonych dla systemu 4200-SCS -karty źródeł mierzących (do 8 SMU) - 4200-PG 2 - dwukanałowy generator impulsowy - 4200 SCP2 - dwukanałowy cyfrowy oscyloskop 

Zastosowanie: 

• zestaw posiada główne zastosowanie w pomiarach parametrów diod laserowych
• testy diod świecących LED
• testy pasywnych elementów optycznych